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利用Ba0.65Ru0.35TiO3缓冲层制备高热释电系数的Ba0.65Sr0.35TiO3薄膜
引用本文:刘祚麟,吴传贵,张万里,刘兴钊,李言荣. 利用Ba0.65Ru0.35TiO3缓冲层制备高热释电系数的Ba0.65Sr0.35TiO3薄膜[J]. 红外与激光工程, 2006, 35(Z5)
作者姓名:刘祚麟  吴传贵  张万里  刘兴钊  李言荣
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:采用射频溅射,在Ba0.65Sr0.35TiO3(BST)薄膜和Pt/Ti/SiO2/Si衬底之间制备10 nm的Ba0.65Ru0.35RUO3 (BSR)缓冲层,研究了BSR缓冲层对BST薄膜结构和性能的影响.与没有BSR缓冲层的BST薄膜相比,BSR缓冲层可使BST薄膜呈高度a轴择优取向生长,改善了薄膜的介电常数,降低了薄膜的漏电流密度,使其热释电系数达到7.45×10-1 C cm-2 K-1.表明利用BSR缓冲层可以制备高热释电性能的BST薄膜.

关 键 词:钛酸锶钡薄膜  热释电系数  缓冲层  铁电介电辐射计

High pyroelectric Ba0.658r0.35TiO3 thin films with Ba0.65Sr0.35TiO3 buffer
LIU Zuo-lin,WU Chuan-gui,ZHANG Wan-li,LIU Xing-zhao,LI Yan-rong. High pyroelectric Ba0.658r0.35TiO3 thin films with Ba0.65Sr0.35TiO3 buffer[J]. Infrared and Laser Engineering, 2006, 35(Z5)
Authors:LIU Zuo-lin  WU Chuan-gui  ZHANG Wan-li  LIU Xing-zhao  LI Yan-rong
Abstract:
Keywords:
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