首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

集成电路失效分析方法与技术探究
引用本文:张阳.集成电路失效分析方法与技术探究[J].电子世界,2013(19):22-23.
作者姓名:张阳
作者单位:飞思卡尔半导体(中国)有限公司
摘    要:集成电路的应用十分广泛,随着集成电路向着更小工艺尺寸,更高集成度方向发展,集成电路失效分析扮演着越来越重要的角色。一块芯片上集成的器件可达几千万,要想找到失效器件实属大海捞针,因此进行集成电路失效分析必须具备先进、准确的技术和设备,并由具有专业知识的半导体分析人员开展分析工作。

关 键 词:集成电路  失效分析  电性分析  物理分析
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号