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杂志ISSN号
射频溅射生长的氮化硅膜的椭偏光谱测量
作者姓名:
余玉贞
张世宏
黄炳忠
作者单位:
中山大学物理系(余玉贞,张世宏),中山大学物理系(黄炳忠)
摘 要:
本文提出一种处理数据的方法,以解决利用两个椭偏测量值ψ、△,求解两个以上未知参量,得到了在本实验条件下生长的氮化硅膜的实在折射率及其色散,以及氮化硅膜的生长率.实验结果还表明,氮化硅与硅衬底间存在一界面层,
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