| 双密封结构泄漏过程浅析 |
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| 引用本文： | 龙伟,王纲明,宋金成.双密封结构泄漏过程浅析[J].真空与低温,2001,7(3):185-186. |
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| 作者姓名： | 龙伟 王纲明 宋金成 |
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| 作者单位： | 航天医学工程研究所,北京,100094 |
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| 摘 要： | 用氦质谱加压真空法检测双密封结构产品漏率时,常有"缓慢升高"现象的发生,必需解决这一读数困难的问题.建立了双密封结构泄漏过程的数学模型,从而在理论上解释了此类现象发生的原因,并编制程序后对一些具体结构进行了分析计算.这对确定检漏时间和相应的数据处理方法有一定的指导意义.
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| 关 键 词： | 氦质谱检漏仪 检漏 真空 双密封结构 |
| 文章编号： | 1006-7086(2001)03-0184-03 |
| 修稿时间： | 2001年12月7日 |
LEAK PROCESS ANALYSIS FOR DOUBLE-SEALED STRUCTURE |
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| LONG Wei,WANG Gang_ming,SONG Jin_cheng.LEAK PROCESS ANALYSIS FOR DOUBLE-SEALED STRUCTURE[J].Vacuum and Cryogenics,2001,7(3):185-186. |
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| Authors: | LONG Wei WANG Gang_ming SONG Jin_cheng |
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| Abstract: | Climbing" phenomenon in detecting the leak of double_sealed product often troubles us.A mathematics model for the leaking process is proposed.In addition,a program is given to calculate a concrete structure. It is useful to make certain the leak detecting time and data processing method. |
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| Keywords: | helium mass spectrometer leak detection vacuum double-sealed structure |
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