| 新型室温红外探测器的微电容快速测试系统 |
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| 引用本文： | 金文贤,徐萍萍,徐晨,沈光地. 新型室温红外探测器的微电容快速测试系统[J]. 仪表技术与传感器, 2005, 0(8): 39-40 |
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| 作者姓名： | 金文贤 徐萍萍 徐晨 沈光地 |
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| 作者单位： | 北京工业大学,北京,100022 |
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| 摘 要： | 新型室温红外探测器对8～14舯红外辐射具有快速灵敏的响应，设计出用于该探测器的微电容测试系统，能够快速灵敏地将探测器输出的电容信号通过C—f、f—V变换电路转换为电压信号，然后由A／D转换电路变为数字信号后传到PC机进行信号处理。给出了硬件电路的实现方法，其采样频率为10kHz，电容信号的分辨率为10fF．这种测试方法也适用于其他微小电容式传感器的快速检测。
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| 关 键 词： | 微电容 红外探测器 快速检测 电路系统 |
| 文章编号： | 1002-1841（2005）08-0039-02 |
| 收稿时间： | 2004-08-26 |
| 修稿时间： | 2005-05-23 |
Small Capacitance Fast Testing System for Novel Room Temperature Infrared Detector |
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| JIN Wen-xian,XU Ping-ping,XU Chen,SHEN Guang-di. Small Capacitance Fast Testing System for Novel Room Temperature Infrared Detector[J]. Instrument Technique and Sensor, 2005, 0(8): 39-40 |
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| Authors: | JIN Wen-xian XU Ping-ping XU Chen SHEN Guang-di |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Small Capacitance IR Detector Fast Measurement Circuit System |
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