| 低本底反康普顿HPGe γ谱仪的调试 |
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| 引用本文： | 魏玉锦,师国彬,韩峰,过惠平.低本底反康普顿HPGe γ谱仪的调试[J].核电子学与探测技术,1994(2). |
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| 作者姓名： | 魏玉锦 师国彬 韩峰 过惠平 |
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| 作者单位： | 中国人民解放军第二炮兵工程学院 |
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| 摘 要： | 本文报道的低本底反康普顿ＨＰＧｅγ谱仪．ＨＰＧｅ探测器对￣（６０）Ｃｏ的１３３２ｋｅｖγ射线的相对探测效率为３８．３％．能量分辨率为１．７７ｋｅＶ。在阱型反符合屏蔽下．对放在探测器端面的￣（１３７）Ｃｓ点状薄膜源的峰康比可达６８５．８：１；测量时间１００ｍｉｎ．置信度９５％时．￣（１３７）Ｃｓ点源的最小判断限为１．１２ｘ１Ｏ￣（－４）Ｂｑ。在物质屏蔽和阶型反符合屏蔽下，在５０～２１５２．８ｋｅＶ能区的积分本底为０．３４３ｓ￣（－１）。与无反符合屏蔽时相比，压缩系数大于４．５．对￣（１５２）Ｅｕ体源，谱仪积分非线性为０．０２７％。
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| 关 键 词： | 低本底，HPGe探测器，反康普顿γ谱仪 |
The Alignment of the Low-Background Anti-Compton HPGe Gamma-ray Spectrometer |
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| Wei Yujin,Shi Guobin,Han Feng,Guo Huiping.The Alignment of the Low-Background Anti-Compton HPGe Gamma-ray Spectrometer[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,1994(2). |
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| Authors: | Wei Yujin Shi Guobin Han Feng Guo Huiping |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Low-background HPGe detector Anti-Compton gamma ray spec-trometer) |
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