首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

CCD技术在中心偏测试中的应用
引用本文:陈子飞,王前程,李晓峰. CCD技术在中心偏测试中的应用[J]. 计量与测试技术, 2017, 44(5). DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2017.05.037
作者姓名:陈子飞  王前程  李晓峰
作者单位:中国空空导弹研究院,河南洛阳,471003
摘    要:介绍CCD技术和中心偏的测试原理,给出了测量系统和光路的设计方案,详细地介绍了中心偏的自动测试的设计过程。

关 键 词:中心偏  CCD

Application on CCD Technology in Decentration Measurement
Chen Zifei,Wang Qiancheng,Li Xiaofeng. Application on CCD Technology in Decentration Measurement[J]. Metrology and Measurement Technique, 2017, 44(5). DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2017.05.037
Authors:Chen Zifei  Wang Qiancheng  Li Xiaofeng
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号