| 铍材和铍粉的X射线照相法 |
| |
| 引用本文： | 张文华,李宗理,翟惠民. 铍材和铍粉的X射线照相法[J]. 无损检测, 2000, 22(1): 28-32 |
| |
| 作者姓名： | 张文华 李宗理 翟惠民 |
| |
| 作者单位： | 西北稀有金属材料研究院,宁夏,753000 |
| |
| 摘 要： | 金属铍的低密度 (理论密度为 1 .85g/cm3)低原子序数 (Z=4.0 )的性质 ,决定了金属铍具有非常高的 X射线穿透能力 ,铍的 X射线吸收系数低 ,近似人体和赛璐珞。所以铍材和铍粉 X射线检查要采用低电压和铍窗口小焦点或微焦点 X射线机 ,及细微粒 X射线胶片。1 微焦点 X射线照相的探讨通常在一张底片上允许的最大几何不清晰度是0 .2 mm左右。如果要将底片放大 ,那原始片的几何不清晰度就不能 >0 .2 /E(mm) ,这里 E是放大倍数。图 1是底片成象的几何图形。几何不清晰度公式Ug =S . Tf - T式中 S——焦点尺寸T——工件厚度f——焦点至胶片…
|
| 关 键 词： | 铍材 铍粉 X射线照相法 |
| 修稿时间： | 1998-06-12 |
X-RADIOGRAPHIC INSPECTION OF BERYLLIUM POWDERS AND BERYLLIUM MATERIALS |
| |
| Zhang Wenhua,Li Zongli,Zhai Huimin. X-RADIOGRAPHIC INSPECTION OF BERYLLIUM POWDERS AND BERYLLIUM MATERIALS[J]. Nondestructive Testing, 2000, 22(1): 28-32 |
| |
| Authors: | Zhang Wenhua Li Zongli Zhai Huimin |
| |
| Affiliation: | Zhang Wenhua,Li Zongli,Zhai Huimin;((Northwest Rare Metal Materials Research lnstitute)) |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
