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| 第15届世界无损检测会议论文题录(V) | |
| 摘 要： | 方法和仪器无损检测用数字射线成象系统的图象质量比较 421Willems P, B Vaessen, P Soltani(比利时)计算机化的射线照相技术——射线检测技术的未来 056Morro F(美国)影响胶片射线照相的重要因素 071Singh RP, E Madhav Rao, T Singh(印度)线性加速器屏的最优化091Rigaud N, JM Tchilian, JP Relet |
| 文章编号： | 1000-6656(2001)05-0226-05 |
| 修稿时间： | 2000-12-27 |
INDEX FOR PROCEEDINGS OF THE 15TH WORLD CONFERENCE ON NONDESTRUCTIVE TESTING (V) |
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