| 塑封微电路在高可靠领域的应用、筛选与鉴定 |
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| 引用本文： | 周军连,王蕴辉,唐云. 塑封微电路在高可靠领域的应用、筛选与鉴定[J]. 电子产品可靠性与环境试验, 2007, 25(5): 48-51 |
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| 作者姓名： | 周军连 王蕴辉 唐云 |
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| 作者单位： | 信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610 |
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| 摘 要： | 主要介绍了塑封微电路(PEM)在高可靠领域的应用,并总结了JPL和NASA实验室推荐的筛选与鉴定试验程序,提出了在高可靠领域使用PEM时应考虑因素,旨在为我高可靠领域应用PEM提供可借鉴的试验方法.
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| 关 键 词： | 塑封微电路 筛选 鉴定 试验 |
| 文章编号： | 1672-5468（2007）05-0048-04 |
| 修稿时间： | 2007-01-29 |
The Application, Screening and Qualification of Plastic Encapsulated Microcircuit (PEM) in High Relibility Field |
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| ZHOU Jun-lian,WANG Yun-hui,TANG Yun. The Application, Screening and Qualification of Plastic Encapsulated Microcircuit (PEM) in High Relibility Field[J]. Electronic Product Reliability and Environmental Testing, 2007, 25(5): 48-51 |
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| Authors: | ZHOU Jun-lian WANG Yun-hui TANG Yun |
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| Affiliation: | CEPREI, Guangzhou 510610, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | PEM high reliability application screening qualification |
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