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基体温度对磁控溅射沉积ZAO薄膜性能的影响
引用本文:付恩刚,庄大明,张弓,方玲,梁展鸿,吴敏生,杨伟方. 基体温度对磁控溅射沉积ZAO薄膜性能的影响[J]. 真空科学与技术学报, 2003, 23(1): 12-15
作者姓名:付恩刚  庄大明  张弓  方玲  梁展鸿  吴敏生  杨伟方
作者单位:1. 清华大学机械工程系,北京,100084
2. 金洲集团,浙江,313000
基金项目:国家“8 63”高技术 (No 2 0 0 1AA5 13 0 2 4),清华大学机械工程学院“985”基础研究基金资助
摘    要:利用中频交流磁控溅射方法 ,采用氧化锌铝陶瓷靶材 [w(ZnO) =98%、w(Al2 O3 ) =2 % ]制备了ZAO(ZnO∶Al)薄膜 ,观察了基体温度对ZAO薄膜的晶体结构、电学和光学性能的影响 ,采用X射线衍射仪对薄膜的结构进行了分析 ,采用光学分度计和电阻测试仪测量了薄膜的光学、电学特性 ,采用霍尔测试仪测量了薄膜的载流子浓度和霍尔迁移率。结果表明 :沉积薄膜时的基体温度对薄膜的结构、结晶状况、可见光透射率以及导电性有较大的影响。当基体温度为 2 5 0℃ ,Ar分压为 0 8Pa时 ,薄膜的最低电阻率为 4 6× 10 -4Ω·cm ,方块电阻为 35Ω时 ,可见光 (λ =5 5 0nm)透射率高达 92 0 %。

关 键 词:磁控溅射  ZAO薄膜  基体温度  电阻率  透射率
文章编号:0253-9748(2003)01-0012-04
修稿时间:2002-04-29

Effect of Substrate Temperature on Performance of ZAO Thin Films Deposited by Magnetron Sputtering
Fu En''''gang,Zhuang Daming,Zhang Gong,Fang Ling,Liang Zhanhong,Wu Minsheng. Effect of Substrate Temperature on Performance of ZAO Thin Films Deposited by Magnetron Sputtering[J]. JOurnal of Vacuum Science and Technology, 2003, 23(1): 12-15
Authors:Fu En''''gang  Zhuang Daming  Zhang Gong  Fang Ling  Liang Zhanhong  Wu Minsheng
Abstract:
Keywords:Magnetron sputting  ZAO thin films  Substrate temperature  Resistivity  Transmittance  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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