| 应用于电子器件红外探测的发射率修正误差分析 |
| |
| 引用本文： | 何小琦.应用于电子器件红外探测的发射率修正误差分析[J].电子工艺技术,2001,22(4):179-180,182. |
| |
| 作者姓名： | 何小琦 |
| |
| 作者单位： | 信息产业部电子第五研究所, |
| |
| 摘 要： | 器件表面温度是表征器件热性能的重要参数，应用红外热像法探测表面温度时，影响其测量结果准确性的关键因素是表面发射率的修正，通过对红外热像法发射率直接修正误差的统计分析，给出了不同条件下的发射率修正值标准差δ、误差ε的范围，提出了应用于电子器件的最小误差探测条件。
|
| 关 键 词： | 红外热像 发射率 温度 红外探测 电子器件 |
| 文章编号： | 1001-3474(2001)04-0179-02 |
Error Analysis of Emissivity Correction Applied in Infrared Detection of Electronic Devices |
| |
| HE Xiao-qi.Error Analysis of Emissivity Correction Applied in Infrared Detection of Electronic Devices[J].Electronics Process Technology,2001,22(4):179-180,182. |
| |
| Authors: | HE Xiao-qi |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | Infrared imaging Emissivity Temperature |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
