14．8MeV中子引起^9Be（n，xα）反应的双微分截面测量

中子引起出射带电粒子反应的双微分截面在核工程、核反应理论研究和中子治癌等应用领域皆具有重要意义。我们用一个低气压多丝正比室△E—E望远镜系统测量了14．8MeV中子引起^9Be（n，xα）反应出射仪的双微分截面，中子源是在中国原子能科学研究院的高压倍加器上用T（d，n）^4He反应产生的，入射氘能量为250keV，靶为1mg／cm^2的氚钛靶。