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杂志ISSN号
安捷伦科技信息
作者姓名:
章肖和
摘 要:
安捷伦科技推出首款用于40/100G物理层测试的光调制分析仪:安捷伦科技公司日前宣布:将于2009年3月23—26日在美国加州圣迭戈会展中心举行的2009年美国光电光纤通信展览会及研讨会上推出业界首款时域光调制分析仪N4391A。
关 键 词:
安捷伦科技公司
科技信息
美国加州
通信展览会
会展中心
分析仪
光调制
物理层
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