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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
设计与测试合而为一
作者姓名:
Rick
Nelson
作者单位:
EDN总编
摘 要:
高效的设计与测试策略需要整个芯片设计和生产生态系统全面努力。 设计和测试部门是否正趋向于融合?在阅读最近一些新闻报道时,您可能会产生这一想法。我曾在一篇早期的评论中提到过设计与测试的关系的问题(参考文献1)。该评论是对此前执行编辑Ron Wilson发表的一篇文章所做的回应(参考文献2)。我坚持自己在今年3月20日发表的文章中得出的结论,即“认为嵌入式仪器会将外置仪器淘汰的想法是错误的”。但是近期的新闻和事件均表明:嵌入式仪器将继续侵入市场。
关 键 词:
芯片设计
测试策略
新闻报道
参考文献
生态系统
嵌入式
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