| 基于显微形貌重建的XLPE电缆绝缘料纯净度测量技术 |
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| 引用本文： | 赵洪,刘艳,李长莉,于效宇.基于显微形貌重建的XLPE电缆绝缘料纯净度测量技术[J].仪器仪表学报,2008,29(5):1035-1039. |
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| 作者姓名： | 赵洪 刘艳 李长莉 于效宇 |
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| 作者单位： | 1. 哈尔滨理工大学电气与电子工程学院,哈尔滨,150040
2. 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院,哈尔滨,150040 |
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| 摘 要： | 本文针对交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘料纯净度检测的问题,研制了基于形貌重建的高速扫描测量系统.该测量系统采用现场可编程门阵列(FPGA)芯片控制高速A/D转换器采集CCD数据,根据动态阈值压缩CCD扫描图像数据并对数据进行封装处理,在保留杂质信息的前提下大幅地减少了待处理数据.封装数据通过USB2.0接口传输至上位机进行分析、记录和杂质图像重建.实验证明此系统测量实时准确,杂质形貌信息恢复完好.该系统适用于XLPE电缆绝缘料的缺陷检测和形貌测量.
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| 关 键 词： | 交联聚乙烯 杂质检测 数据处理 现场可编程门阵列 形貌重建 XLPE 电缆绝缘料 纯净度 测量技术 technology mapping particle contaminant based evaluation purity compound 形貌测量 缺陷检测 系统测量 信息恢复 验证 图像重建 记录 |
| 修稿时间： | 2007年11月1日 |
XLPE insulation compound purity evaluation based on contaminant particle mapping technology |
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| Zhao Hong,Liu Yan,Li Changli,Yu Xiaoyu.XLPE insulation compound purity evaluation based on contaminant particle mapping technology[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2008,29(5):1035-1039. |
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| Authors: | Zhao Hong Liu Yan Li Changli Yu Xiaoyu |
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