| 内嵌于DDS高速DAC的动态参数测试 |
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| 引用本文： | 张凯虹,陈真,王建超. 内嵌于DDS高速DAC的动态参数测试[J]. 电子与封装, 2015, 0(2): 16-18 |
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| 作者姓名： | 张凯虹 陈真 王建超 |
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| 作者单位： | 1. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡,214035
2. 江南大学物联网学院,江苏无锡,214122 |
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| 摘 要： | 对基于ATE和频谱仪的内嵌于DDS的高速DAC的动态参数进行测试实验,通过编程由ATE提供数字正弦波和时钟信号;通过频谱仪对DAC输出模拟信号采样,并通过VBT编程得到DAC的动态参数。最后将结果返回到ATE的Excel环境下与其他测试参数结果一起输出。整个流程由ATE主机控制,避免了芯片的二次测试,缩减了测试成本,实验证明在实际应用中该方法有很好的效果。
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| 关 键 词： | 数字模拟转换器 动态参数测试 直接数字频率合成 |
Dynamic Parameter Test of High-speed DAC Embedded in DDS |
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| ZHANG Kaihong,CHEN Zhen,WANG Jianchao. Dynamic Parameter Test of High-speed DAC Embedded in DDS[J]. Electronics & Packaging, 2015, 0(2): 16-18 |
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| Authors: | ZHANG Kaihong CHEN Zhen WANG Jianchao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | digital-to-analog converter (DAC) dynamic parameters test direct digital synthesis (DDS) |
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