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集成电路RFID芯片测试系统设计与实现
引用本文:王卓.集成电路RFID芯片测试系统设计与实现[J].通讯世界,2014(8):22-23.
作者姓名:王卓
作者单位:航天信息股份有限公司技术研究院,北京市100195
摘    要:RFID测试系统的设计与实现是进一步提升RFID芯片的必然要求,在今后工作过程中对于这项工作应该保持高度重视。本文将主要探讨一种基于ISO14443A协议的非接触式集成电路芯片的功能测试系统。该系统的实现对于保证系统具有重要的意义。测试系统的设计和实现是一个专业的过程,对于这个过程必须要严格按照设计规范来操作。

关 键 词:RFID  测试系统  集成电路  IS014443A协议
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