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| 基于数字测试系统的RF IC芯片测试扩展 | |
| 引用本文： | 鹿梅,赵龙.基于数字测试系统的RF IC芯片测试扩展[J].集成电路应用,2002(12):43-46. |
| 作者姓名： | 鹿梅 赵龙 |
| 作者单位： | 上海市集成电路设计研究中心200001 |
| 摘 要： | 本文介绍如何扩展低端IC测试系统，使其具备13.56MHz RF IC卡芯片批量测试能力，为一些IC设计或测试企业利用现有低端数字测试系统，降低RF IC卡测试成本提供一种可能的选择。 |
| 关 键 词： | 数字测试系统 RF IC卡 调制 解调 接口 |
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