| 单片机测试系统的数据存储和管理 |
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| 引用本文： | 赵成,袁海文. 单片机测试系统的数据存储和管理[J]. 单片机与嵌入式系统应用, 2006, 0(12): 13-15 |
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| 作者姓名： | 赵成 袁海文 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学 |
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| 摘 要： | 介绍一种应用于单片机测试系统的链式存储结构,其特点在于采用数据结构的存储方式,并结合有效的存储管理方法对系统的存储空间进行管理和分配,从而在普通的单片机测试系统中实现了对大量测试结果的抽象化数据管理,便于系统进行数据保存、数据删除、数据查询以及与上位机的数据传输等各项操作,增强了系统的可靠性和可继承性。
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| 关 键 词： | 链式存储结构 数据存储管理 单片机测试系统 |
| 收稿时间： | 2006-08-29 |
| 修稿时间： | 2006-08-29 |
Data Storage and Management of MCU Testing System |
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| Zhao Cheng,Yuan Haiwen. Data Storage and Management of MCU Testing System[J]. Microcontrollers & Embedded Systems, 2006, 0(12): 13-15 |
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| Authors: | Zhao Cheng Yuan Haiwen |
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| Keywords: | |
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