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基于Multi-Capture结构的扫描链优化算法
引用本文:桑伟伟,杨军,凌明.基于Multi-Capture结构的扫描链优化算法[J].电子器件,2004,27(1):98-101.
作者姓名:桑伟伟  杨军  凌明
作者单位:东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096
基金项目:国家自然科学基金(项目编号:60176018)
摘    要:提出了一种基于多扫描链Multi-capture结构的扫描链优化算法,通过构造具有最小相关度的多扫描链结构,并利用Multi-capture内部响应复用为激励以侦测故障的原理,达到极大压缩测试向量长度的目的。实验结果表明,该优化算法平均优化率可以达到30%左右。

关 键 词:Multi-capture结构  多扫描链  最小相关度
文章编号:1005-9490(2004)01-0098-04

Scan Chain Optimization Algorithm in Multi-Capture Structure
SANG Wei-wei,YANG Jun,LING Ming.Scan Chain Optimization Algorithm in Multi-Capture Structure[J].Journal of Electron Devices,2004,27(1):98-101.
Authors:SANG Wei-wei  YANG Jun  LING Ming
Abstract:This paper proposed a scan chain optimization algorithm in Multi-capture structure with multiple scan chains. It constructs multiple scan chains with minimum correlative of registers, which is used in Multi-capture structure in which test responses are fedback to registers and primary inputs. This method can maximum decrease test patterns. Experiment shows that the optimization of this algorithm can be about up to 30 % on average.
Keywords:multi-capture structure  scan chains  minimum coiTelative  
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