RFID系统克隆标签检测方法综述

随着物联网的发展和无线射频识别技术(radio frequency identification, RFID)的广泛应用，RFID系统的安全问题越发突出。其中克隆标签的出现极大地阻碍了RFID系统的大规模发展，成为当前一个亟待解决的难题。通过总结分析目前RFID克隆标签检测领域的一些主流方法，旨在为后续研究更有效的RFID克隆标签检测策略奠定基础。针对目前已知的一些检测方法，该文将克隆标签检测方法归纳总结为射频指纹、同步秘密、轨迹分析和碰撞检测四大类，并较为系统地对这四大类方法所包含的具体策略进行了研究，同时对这些方法策略进行了横向与纵向的对比分析。目前这四类方法都存在一定的缺陷，导致其无法直接应用于现有RFID系统进行克隆标签检测或者应用条件较苛刻。针对目前这些方法存在的问题，认为匿名RFID系统克隆标签的分布式检测是未来的一个主要研究方向。