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超深亚微米芯片互连线电感提取技术及应用
引用本文:何剑春,陆思安,何乐年,葛海通,严晓浪.超深亚微米芯片互连线电感提取技术及应用[J].浙江大学学报(自然科学版 ),2002,36(6):638-641.
作者姓名:何剑春  陆思安  何乐年  葛海通  严晓浪
作者单位:何剑春(浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027)       陆思安(浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027)       何乐年(浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027)       葛海通(浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027)       严晓浪(浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027)
基金项目:浙江省自然科学基金资助项目(ZD0015).
摘    要:超深亚微米(VDSM)工艺下,集成电路的高频、高集成度趋势使互连线间电磁耦合作用不容忽略。首先回顾了典型电感提取方法及实际应用中电感阵稀疏化、模型降阶等问题;基于互连线分布RLC模型,对一类电源树的同步切换噪声问题作了分析;并分析了RL梯状电路、有效电容法等实用电感效应处理措施。一些仿真实例表明,未来高频集成电路中电感效应可严重影响部分关键互连线网性能,将成为信号完整性的重要制约因素。

关 键 词:超深亚微米  电感提取  VLSI互连线  信号完整性  集成电路  制造工艺  芯片设计
文章编号:1008-973X(2002)06-0638-04
修稿时间:2001年10月18

Research on inductance extraction for on-chip interconnects in DSM designs
Abstract:
Keywords:
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