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低矫顽力GMR磁传感器及其单畴模型的研究
引用本文:刘鹏,李伟,叶双莉,任天令,刘理天. 低矫顽力GMR磁传感器及其单畴模型的研究[J]. 微纳电子技术, 2007, 44(7): 216-218
作者姓名:刘鹏  李伟  叶双莉  任天令  刘理天
作者单位:清华大学,微电子学研究所,北京,100084
摘    要:在硅片上制备结构为Ta/NiFeCr/NiFe/CoFe/Cu/CoFe/IrMn/Ta的IrMn顶钉扎自旋阀薄膜,并最终制成了一组基于此自旋阀结构的GMR磁传感器芯片。利用弱磁场下的退火工艺,改变薄膜易磁化轴的方向,当退火温度为150℃、外加磁场为120Oe时,GMR芯片的矫顽力可以降至0.2Oe以下。同时建立了一种自旋阀自由层的单畴模型,用以解释这一退火效应。利用Mat-lab计算GMR芯片的Meff-H曲线,所得到的计算结果与实验结果一致。所以,自旋阀自由层易磁化轴的方向与GMR磁传感器的性能有着密切的关系。

关 键 词:巨磁电阻传感器  自旋阀  矫顽力  退火  单畴模型
文章编号:1671-4776(2007)07/08-0216-03
修稿时间:2007-04-02

Study on GMR Magnetic Sensor with Low Coercivity and the Single Domain Model
LIU Peng,LI Wei,YE Shuang-li,REN Tian-ling,LIU Li-tian. Study on GMR Magnetic Sensor with Low Coercivity and the Single Domain Model[J]. Micronanoelectronic Technology, 2007, 44(7): 216-218
Authors:LIU Peng  LI Wei  YE Shuang-li  REN Tian-ling  LIU Li-tian
Affiliation:Institute of Microelectronics, rsinghua University, Beijing 100084, China
Abstract:
Keywords:GMR sensor   spin valve   coercivity   annealing   single domain model
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