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| 新型芯片故障诊断设备 | |
| 摘 要： | 英国萨塞克斯大学科学家宣布研制出新型芯片故障诊断设备——扫描电位显微镜。与其它类似测试手段不同，新设备在诊断过程中不会对芯片的正常工作产生影响。目前诊断芯片故障最常用的是探针测试法，该方法是用探针接触芯片的一些特定部位，通过测量这些部位的电压来判断哪些元件出现了毛病。另外，电子束扫描技术在芯片故障诊断过程中也常被采用。但两种方法在诊断过程中都会从芯片集成电路中吸收电流，从而干扰被诊断芯片的正常工作。萨塞克斯大学科学家发明的“扫描电位显微镜”成功地避免了上述问题。它采用了与小型电压计相连的钨制探针… |
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