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| 边界扫描测试技术及可测性标准IEEE1149.1 | |
| 引用本文： | Sati.,KI,杨彤江.边界扫描测试技术及可测性标准IEEE1149.1[J].电子测试,1995,9(3):42-48,39. |
| 作者姓名： | Sati. KI 杨彤江 |
| 摘 要： | 这是一篇关于可与数字专用集成电路(ASIC)的设计结合在一起的边界扫描测试技术概念的综合性文章。本文包括了IEEE可测性标准1149.1——可在设计、开发数字ASIC及系统的过程中实行的边界扫描测试技术——的特性及讨论。这些测试技术可以用于测试系统中的数字ASIC器件、装有器件的多层印刷电路板(PCB)及多芯片模块(MCM)。 |
| 关 键 词： | 集成电路 ASIC 边界扫描测试 可测性 标准 |
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