| 串联谐振试验自动升压过程中的PID控制 |
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| 引用本文： | 樊斌,鲍清华,刘晓庄,周洪,陈维. 串联谐振试验自动升压过程中的PID控制[J]. 仪表技术与传感器, 2010, 0(9) |
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| 作者姓名： | 樊斌 鲍清华 刘晓庄 周洪 陈维 |
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| 作者单位： | 1. 苏州科技学院数理学院,江苏苏州,215011
2. 苏州市华电电气技术有限公司,江苏苏州,215128 |
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| 摘 要： | 利用串联谐振设备进行耐压试验,必须将试验电压升到所设定的高压.升压有手动和自动2种方法.手动升压会由于人为因素导致升压过程不连续和不稳定.自动升压速率平稳且可调.将单片机、D/A技术、模拟放大技术、逆变升压技术等综合应用,根据数字输入量改变引起输出高压的变化,以及系统的响应时间,结合特定的自动升压PID控制算法,较理想地实现了试验中的自动升压,其使用效果是:升压速率均匀、速率可调、升压过冲很小.
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| 关 键 词： | 单片机 串联谐振 PID控制 |
PID Control Process of Automatically Increasing Voltage in Test of Series Resonant |
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| FAN Bin,BAO Qing-hua,LIU Xiao-zhuang,ZHOU Hong,CHEN Wei. PID Control Process of Automatically Increasing Voltage in Test of Series Resonant[J]. Instrument Technique and Sensor, 2010, 0(9) |
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| Authors: | FAN Bin BAO Qing-hua LIU Xiao-zhuang ZHOU Hong CHEN Wei |
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