基于太赫兹偏振成像的砗磲材料检测

太赫兹波由于其所在波谱位置的特殊性,具有穿透性高,能量低,对极性分子敏感,对非金属非极性材料友好等特性,在无损检测、安全监测方面具有独特优势。利用太赫兹时域光谱成像系统,通过改变入射与探测光的偏振方向,对包含槽型缺陷的砗磲样品进行不同偏振方向的成像实验。由于砗磲材料本身透过率不高,色散较大,传统的直接成像结果无法分辨,难以达到预期效果。通过引入琼斯矢量和琼斯矩阵概念,对偏振成像结果再处理,可进一步提高成像效果。结果表明,此方法对所含缺陷的边缘信息十分灵敏,可以有效地提高砗磲材料成像结果的分辨力。