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某电子设备随机振动疲劳寿命仿真分析
引用本文:张云,吴圣陶,曾柯杰,李崧. 某电子设备随机振动疲劳寿命仿真分析[J]. 电子机械工程, 2016, 32(6): 25-28. DOI: 10.3969/j.issn.1008-5300.2016.06.006
作者姓名:张云  吴圣陶  曾柯杰  李崧
作者单位:中国电子科技集团公司第三十研究所,四川成都,610041
摘    要:文中分析了某电子设备疲劳寿命.首先,通过ANSYS随机振动的功率谱密度(Power SpectralDensity,PSD)分析得出设备的1σ应力分布;然后,利用高斯三区间法和Miner累积损伤定律得出了疲劳失效部位预估.仿真结论与后续的试验结果较一致,证实了此方法在电子设备的疲劳寿命分析领域有一定实践指导价值.

关 键 词:电子设备  随机振动  疲劳寿命  谱分析  PSD

Analysis of Random Vibration Fatigue Life of a Electronic Equipment
ZHANG Yun,WU Sheng-tao,ZENG Ke-jie and LI Song. Analysis of Random Vibration Fatigue Life of a Electronic Equipment[J]. Electro-Mechanical Engineering, 2016, 32(6): 25-28. DOI: 10.3969/j.issn.1008-5300.2016.06.006
Authors:ZHANG Yun  WU Sheng-tao  ZENG Ke-jie  LI Song
Affiliation:The 30th Research Institute of CETC,The 30th Research Institute of CETC,The 30th Research Institute of CETC and The 30th Research Institute of CETC
Abstract:
Keywords:electronic equipment   random vibration   fatigue life   spectrum analysis   PSD
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