| 推导光栅衍射暗纹和次级亮纹位置公式的一种新方法 |
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| 引用本文： | 谢甫珍,文光俊,谢康,杨华军.推导光栅衍射暗纹和次级亮纹位置公式的一种新方法[J].四川激光,2005,26(6):47-48. |
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| 作者姓名： | 谢甫珍 文光俊 谢康 杨华军 |
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| 作者单位： | 电子科技大学 成都610054 |
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| 摘 要： | 用菲涅耳半波带法推出光栅衍射缝间干涉因子暗纹和次极亮纹位置公式,其中次极大位置公式在算次极大强度时有着非常重要的作用。
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| 关 键 词： | 菲涅耳半波带法 光栅衍射 条纹位置 |
| 文章编号： | 0253-2743(2005)06-0047-02 |
| 收稿时间： | 2004-04-05 |
| 修稿时间： | 2004年4月5日 |
A new method of educing grating diffraction minimum and secondary maximum stripe location formula |
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| XIE Pu-zheng,WEN Guang - jun, XIE Kang, YANG Hua-jun.A new method of educing grating diffraction minimum and secondary maximum stripe location formula[J].Laser Journal,2005,26(6):47-48. |
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| Authors: | XIE Pu-zheng WEN Guang - jun XIE Kang YANG Hua-jun |
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| Affiliation: | School of Opti - electronic Information, University of electronic Science and Technology, School |
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| Abstract: | We educe minimum and secondary maximum stripe location formula of grating diffraction with the method of Fresnel Zone Plate Method.And the secondary maximum stripe location formula of grating diffraction is very important in calculating secondary maximum. |
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| Keywords: | Fresnel Zone Plate Method stripe location grating diffraction |
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