| 工业硅中钛的测定 |
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| 引用本文： | 孟福海,石磊. 工业硅中钛的测定[J]. 轻金属, 2000, 0(3): 43-44 |
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| 作者姓名： | 孟福海 石磊 |
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| 作者单位： | 郑州轻金属研究院,河南,郑州,450041 |
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| 摘 要： | 试样用氢氟酸和硝酸分解,硫酸冒烟驱除硅、氟,残渣用盐酸溶解.试液中钛(Ⅳ)与二安替吡啉甲烷在1～2 mol/l盐酸介质中形成络合比为13的黄色络合物,在波长390 mm处有最大吸收,摩尔吸光系数∈=1.5×104,钛量在140 μg/ml以下符合比尔定律.工业硅中杂质元素铝、钙、镁、锰、铜、镍、锡、铅、锌、磷不干扰测定.铁(Ⅲ)与试剂形成棕色络合物,严重干扰测定;铬(Ⅵ)、钡(Ⅴ)、铈(Ⅳ)由于离子本身颜色干扰测定,在硫酸铜催化下,加入抗坏血酸将它们还原至低价状态.即可消除其干扰.
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| 关 键 词： | 钛 二安替吡啉甲烷 工业硅 测定 |
| 文章编号： | 1002-1752(2000)03-0043-02 |
| 修稿时间： | 1999-12-13 |
Measurement of titanium in metal silicon |
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| MENG Fuhai,SHI Lei. Measurement of titanium in metal silicon[J]. Light Metals, 2000, 0(3): 43-44 |
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| Authors: | MENG Fuhai SHI Lei |
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