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分类号
杂志ISSN号
X射线荧光光谱法测定萤石矿中CaF_2、T_(Fe)、K_2O、Na_2O、P、S和SiO_2
作者姓名:
程坚
作者单位:
技术质量部
摘 要:
尝试用X射线荧光光谱法分析萤石中的CaF2、SiO2、P和S以及全铁(TFe)、K2O和Na2O,实现多元素同时分析。从样品制备、仪器工作条件选择及基体效应的影响等方面进行试验,找出最佳条件,取得了满意的结果。实验结果表明,用X射线荧光光谱法分析萤石中各元素成分,完全可以满足日常生产分析要求。
关 键 词:
X射线荧光光谱法
化学分析
萤石
熔剂
试样
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