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亚50nm双栅MOS场效应晶体管的流体动力学模拟
引用本文:刘弋波,刘恩峰,刘晓彦,韩汝琦. 亚50nm双栅MOS场效应晶体管的流体动力学模拟[J]. 半导体学报, 2003, 24(z1): 144-147
作者姓名:刘弋波  刘恩峰  刘晓彦  韩汝琦
作者单位:北京大学微电子学研究所,北京,100871
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);G20000356;
摘    要:利用自主开发的流体动力学模拟软件对亚50nm沟长双栅MOS场效应晶体管的特性进行了模拟,比较了不同沟道长度时电子温度和漂移速度沿沟道方向的分布,并讨论了器件的短沟效应.

关 键 词:流体动力学  双栅MOSFET  阈值电压  短沟效应  电子温度  漂移速度
文章编号:0253-4177(2003)0-0144-04
修稿时间:2002-09-16

Hydrodynamic Simulation of Sub 50nm Double Gate MOSFET
Abstract:
Keywords:
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