| 通过加速老化实验对LED器件可靠性的研究 |
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| 引用本文： | 陈宇,黄帆,严华锋,殷录桥,张建华,李志君.通过加速老化实验对LED器件可靠性的研究[J].照明工程学报,2011(Z1):34-38. |
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| 作者姓名： | 陈宇 黄帆 严华锋 殷录桥 张建华 李志君 |
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| 作者单位： | 上海亚明灯泡厂有限公司;上海大学机电工程与自动化学院; |
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| 摘 要： | 本文描述依据EIAJED-4701/100和IEC 60749-25标准,设计了加速条件为-25℃/125℃的高低温循环加速老化实验。通过3组1W的LED器件和1组COB(chip on board)集成封装LED器件的加速老化,分析了光电热等特性随老化时间的变化情况。加速老化实验结果表明,不同结构材料封装的LED器件光衰速率不同,蓝光LED器件的主波长变化不明显,白光LED器件色温略有变化;器件的结温、热阻随老化时间呈升高趋势;各组LED器件的失效情况相差很大;COB器件的光通量维持率与失效情况都优于普通功率型LED。本实验表明了高低温循环加速老化的实验方法对评价LED的可靠性有重要的参考意义。
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| 关 键 词： | LED器件 光衰率 色温 结温 热阻 可靠性 |
Study on Reliability of LED Packages by Accelerated Aging Tests |
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| Chen Yu Huang Fan Yan Huafeng Yin Luqiao Zhang Jianhua Li Zhijun.Study on Reliability of LED Packages by Accelerated Aging Tests[J].China Illuminating Engineering Journal,2011(Z1):34-38. |
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| Authors: | Chen Yu Huang Fan Yan Huafeng Yin Luqiao Zhang Jianhua Li Zhijun |
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| Affiliation: | Chen Yu1 Huang Fan2 Yan Huafeng1 Yin Luqiao2 Zhang Jianhua2 Li Zhijun1(1.Shanghai Yaming Lighting Co.,Ltd.,Shanghai 201801,2.Shanghai University School of Mechatronic Engineering and Automation,Shanghai 200072) |
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| Abstract: | 本文描述依据EIAJED-4701/100和IEC 60749-25标准,设计了加速条件为-25℃/125℃的高低温循环加速老化实验。通过3组1W的LED器件和1组COB(chip on board)集成封装LED器件的加速老化,分析了光电热等特性随老化时间的变化情况。加速老化实验结果表明,不同结构材料封装的LED器件光衰速率不同,蓝光LED器件的主波长变化不明显,白光LED器件色温略有变化;器件的结温、热阻随老化时间呈升高趋势;各组LED器件的失效情况相差很大;COB器件的光通量维持率与失效情况都优于普通功率型LED。本实验表明了高低温循环加速老化的实验方法对评价LED的可靠性有重要的参考意义。 |
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| Keywords: | LED packages luminous decay rate CCT(correlated color temperature) junction temperature thermal resistance reliability |
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