193nm波长的光刻和光学制造 |
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引用本文: | 友清.193nm波长的光刻和光学制造[J].激光与光电子学进展,1997,34(10):25-28. |
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作者姓名: | 友清 |
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摘 要: | 光刻集成电路生产过程所用的照明波长推动着形状尺寸的变化,即波长越短,可使成像特征越小。为制作下一代计算机用的集成电路片,光刻系统也、须更深地向短波长、高能紫外光谱区移动。在该波长区,光学系统的设计和制作变得更困难。这种需要要求有更严格的系统设计法,必须仔细平衡吸收、散射、严密制造公差和运用寿命的关系。最小特征尺寸为0.18μm的一代集成电路片将用光到方法生产,也许是使用193nm波长的激光照明和用反射折射物镜,后者既包括反射元件,也包括折射元件。为支持这个波段的光致抗蚀剂显影,纽约州特洛帕尔公司的工程师…
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关 键 词: | 集成电路 光刻 光学制造 |
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