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| 芯片自动测试系统硬件实现研究 | |
| 引用本文： | 魏建中.芯片自动测试系统硬件实现研究[J].商品与质量,2022(5):89-91. |
| 作者姓名： | 魏建中 |
| 摘 要： | 针对芯片测试系统的研究开发,实则是为了优化芯片性能,减少封装成本,故此实现硬件测试系统优化设计具备一定的现实意义.在此之上,本文以芯片自动测试系统为设计主体,简要分析了总体设计需求以及总体架构,而后经由数据采集模块、接口控制模块、开发SOPC系统、测试系统运行效果等方法,促使此系统成功研发后,为芯片测试项目的开展指明方... |
| 关 键 词： | 芯片自动测试系统 数据采集模块 接口控制 SOPC系统 |