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| 降低测试成本,提高吞吐率 | |
| 作者姓名： | Alexander Braun |
| 摘 要： | 在测试、组装和封装TechXPOT的“成品率管理”分会上,很多与会者展示了降低不断飞升的测试成本的重要性。总的来说,与会者都能就下述观点达成一致,即随着芯片复杂性的不断提高以及器件平均售价（ASP）的不断降低, |
| 关 键 词： | 测试成本 吞吐率 成品率 复杂性 封装 器件 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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