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基于多层网络的片上网络可靠测试结构
引用本文:俞剑明,周炜,虞志益. 基于多层网络的片上网络可靠测试结构[J]. 计算机工程, 2015, 41(1): 275-278,283
作者姓名:俞剑明  周炜  虞志益
作者单位:复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,201203
基金项目:国家自然科学基金资助项目,上海市科委集成电路专项基金资助项目,国家科技重大专项基金资助项目
摘    要:为解决片上网络测试问题,提出高可靠高并行度的片上网络测试结构。使用多层网络,在普通的片上网络上增加全局的广播网络和汇集测试结果的汇集网络。利用其冗余特性,有效保证测试部件的可靠性,同时提高并行度,节约测试时间。提出完备的路由器内测试方法,结合多层网络实现全面的片上网络测试。实验结果表明,该多层网结构在100核时的面积开销比内建自修复(BISR)结构减小56%,并且其测试时间比BISR结构减少85.8%,测试覆盖率达到100%。

关 键 词:多核处理器  片上网络  多层网络  链路错误  控制错误

Reliable Test Structure for Network on Chip Based on Multilayer Network
YU Jianming,ZHOU Wei,YU Zhiyi. Reliable Test Structure for Network on Chip Based on Multilayer Network[J]. Computer Engineering, 2015, 41(1): 275-278,283
Authors:YU Jianming  ZHOU Wei  YU Zhiyi
Affiliation:YU Jianming;ZHOU Wei;YU Zhiyi;State Key Laboratory of ASIC & System,Fudan University;
Abstract:
Keywords:multi-core processor  Network on Chip (NoC)  multi-layer network  link fault  control fault
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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