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高压栅驱动电路中高速工况研究与设计
引用本文:雷一博,方 健,陈智昕,王定良. 高压栅驱动电路中高速工况研究与设计[J]. 太赫兹科学与电子信息学报, 2019, 17(6): 1098-1101
作者姓名:雷一博  方 健  陈智昕  王定良
作者单位:School of Electronic Science and Engineering,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu Sichuan 610054,China,School of Electronic Science and Engineering,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu Sichuan 610054,China,School of Electronic Science and Engineering,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu Sichuan 610054,China and School of Electronic Science and Engineering,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu Sichuan 610054,China
摘    要:基于高压栅驱动电路,提出一种高速工况下的改进结构,以克服不确定的错误输出。新结构包括高速工况保护技术和一种能够消除R/S触发器输入不确定状态的技术。与传统的栅驱动电路相比,新结构拥有更好的抗风险能力。基于华润上华1 μm 600 V引导配置数据(BCD)工艺平台,使用Cadance公司的Hspice软件仿真验证,并给出改进方案。仿真结果证明,该技术能将高压电平位移电路中窄脉冲信号脉宽从100 ns削波至10 ns。

关 键 词:高压栅驱动;BCD工艺;电平位移;窄脉冲;RS触发器
收稿时间:2018-06-01
修稿时间:2018-07-23

Research and design about high speed working condition in high voltage gate driver
LEI Yibo,FANG Jian,CHEN Zhixing and WANG Dingliang. Research and design about high speed working condition in high voltage gate driver[J]. Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology, 2019, 17(6): 1098-1101
Authors:LEI Yibo  FANG Jian  CHEN Zhixing  WANG Dingliang
Abstract:
Keywords:
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