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基于CCD技术的纱线疵点检测的研究
引用本文:唐述宏.基于CCD技术的纱线疵点检测的研究[J].上海纺织科技,2008,36(8).
作者姓名:唐述宏
作者单位:潍坊学院信息与控制工程学院,山东,潍坊,261061
摘    要:介绍了纱线疵点的检测方法,讨论了测量系统的构成,给出了该系统硬件原理图,分析了系统的工作原理。该系统硬件线路简单可靠,配有与上位机通信的USB接口,能高速实时地将纱线疵点图像信息传送至上位PC计算机。通过对虚拟示波器DSO-2902的二次开发,实现了对整个检测过程的控制,系统能显示和保存计算得到的结果,为用户提供了良好的人机界面。

关 键 词:检测器  纱线  疵点  数据采集  信号处理  CCD

Study on yarn defect test based on CCD technology
TANG Shu-hong.Study on yarn defect test based on CCD technology[J].Shanghai Textile Science & Technology,2008,36(8).
Authors:TANG Shu-hong
Abstract:
Keywords:CCD
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