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| 数字电路可测性设计的一种故障定位方法 | |
| 作者姓名： | 潘中良 |
| 作者单位： | 华南师范大学物理系,广州,510631 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(60006002) |
| 摘 要： | 在逻辑函数Reed Muller模式的电路可测性设计方面,文章采用AND门阵列和XOR门树结构来设计电路,提出了一种设计方案,可实现任意逻辑函数的功能,而且所得电路具有通用测试集和完全可故障定位的特点。给出了进行故障定位的方法,并可把它应用于其他相关电路的可测性设计。 |
| 关 键 词： | 逻辑函数 数字电路 可测性设计 故障定位 单故障 |
| 文章编号： | 1009-1742(2002)01-0069-06 |
| 收稿时间： | 2001-06-21 |
| 修稿时间： | 2001-06-21 |
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