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| 红外焦平面器件微扫描技术的发展 | |
| 作者单位： | ;1.昆明物理研究所;2.总参陆航部驻成都地区军事代表室;3.中国兵器工业集团公司科技部 |
| 摘 要： | 红外焦平面器件的像元由光敏区和非光敏区(亦称为死区)构成。死区对应的场景成为探测盲区,落在死区上的场景光子属于无效光子,对信号没有贡献。利用微扫描动作将死区光子转移到光敏区,可以提高红外成像系统的空间分辨率。基于有关基本概念,介绍了红外成像系统中微扫描技术的原理、实现方法和发展趋势。 |
| 关 键 词： | 微扫描 空间分辨率 焦平面列阵 红外成像系统 |
Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array |
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