相敏X射线成像 |
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作者姓名: | 范品忠 |
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作者单位: | |
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摘 要: | 自从伦琴发现X射线100多年以来,X射线成像基本原理和射线照相术的解释基本上没有什么变化。普通方法依赖于X射线吸收,它是反差的唯一来源,也是唯一采用射线或几何光学来描述并解释像的形成。该法忽略另一个更有用的潜在反差来源──相位信息。相敏技术,能用波动光学而不是射线光学来理解它,结合相位信息提供扩大和补充标准的吸收反差法。
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关 键 词: | 相位信息 波动光学 相敏X射线成像 |
收稿时间: | 2001-10-08 |
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