基于模数转换连续测试的最小化ATE存储向量

相比于数字电路来说,混合信号电路通常需要更加复杂的测试技术,数字电路可以用简单的结构进行完整的测试。由于混合信号电路中的一些内部节点和外部信号具有模拟信号特性,因此定性的功能测试需要保证每个操作步骤中的电路性能。像模数转换器和数模转换器这种混合信号设备是SoC的数字处理模块和模拟处理模块之间的接口。利用数字设备来处理现实世界的模拟信号的需求的增加使得这种混合信号设备越来越普遍。由于对混合信号设备进行测试具有高度的复杂性,因此对这些设备进行大批量人工测试效率很低,所以需要使用自动测试设备。目前学者们已经提出多种内建自测试方案来提供模拟测试激励,然而这些测试大多数采用的是传统的直方图的方法。本文提出一个模数转换器输出测试方法,该方法包含一个功能模式,可以进行实时密码分析。该方法所使用的向量并不需要大量存储资源,同时能够提供一个优于传统直方图方法的测试方案。

Minimum ATE memory vector based on continuous testing of ADC