| 77K基底制备的银薄膜的微观结构和光学性质 |
| |
| 引用本文： | 段金霞,黄新堂,甘仲维,高建明,丁晓夏. 77K基底制备的银薄膜的微观结构和光学性质[J]. 真空, 2003, 0(6): 27-30 |
| |
| 作者姓名： | 段金霞 黄新堂 甘仲维 高建明 丁晓夏 |
| |
| 作者单位： | 华中师范大学物理科学与技术学院,湖北,武汉,430079 |
| |
| 基金项目： | 湖北省自然科学基金重点项目(2000J001) |
| |
| 摘 要： | 应用蒸发镀膜方法，分别在室温和液氮温度(77K)玻璃基底上制备了银薄膜样品。对两种样品的微观结构和光学性质进行了对比研究，微观结构应用X射线衍射仪、扫描电子显微镜进行分析，光学性质应用椭圆偏振光谱仪进行研究，测量的光学参数与理论计算的结果基本吻合。比较液氮温度基底上制备的银薄膜与室温基底上制备的银薄膜表面后发现：前种薄膜的表面更均匀、颗粒更小；两种薄膜的光频介电函数实部ε1基本没有差别，前种薄膜的光频介电函数虚部ε2大；前种薄膜的光学吸收增强，吸收峰发生蓝移和宽化。实验结果表明颗粒膜的光学吸收峰的位置依赖于颗粒膜中金属的介电常数和粒子尺寸。
|
| 关 键 词： | 银薄膜 微观结构 光学性质 蒸发镀膜法 椭圆偏振光谱仪 X射线衍射仪 |
| 文章编号： | 1002-0322(2003)06-0027-04 |
| 修稿时间： | 2003-06-17 |
Microstructure and optical property of silver film prepared on the 77K glass substrate |
| |
| DUAN Jin-xia,HUANG Xin-tang,GAN Zhong-wei,GAO Jian-ming,DING Xiao-xia. Microstructure and optical property of silver film prepared on the 77K glass substrate[J]. Vacuum(China), 2003, 0(6): 27-30 |
| |
| Authors: | DUAN Jin-xia HUANG Xin-tang GAN Zhong-wei GAO Jian-ming DING Xiao-xia |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | silver film ellipsometer nanoparticles dielectric constant microstructure |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
