首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

用SiO2气凝胶做隔热层的铁电薄膜红外探测器性能与铁电薄膜层厚度的关系
引用本文:林铁,孙璟兰,孟祥建,马建华,石富文,张晓东,汪琳,陈静,褚君浩. 用SiO2气凝胶做隔热层的铁电薄膜红外探测器性能与铁电薄膜层厚度的关系[J]. 红外与毫米波学报, 2007, 26(5): 329-331335
作者姓名:林铁  孙璟兰  孟祥建  马建华  石富文  张晓东  汪琳  陈静  褚君浩
作者单位:中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083
基金项目:国家自然科学基金资助项目(60371040),上海市科委基础研究重点项目(03JC14076)
摘    要:研究了铁电薄膜红外探测器响应率等器件参数随铁电薄膜厚度的变化.器件的隔热层结构采用气凝胶二氧化硅.实验发现器件的热释电系数,吸收率以及热导均随膜厚增加而增加.铁电膜层厚度为240nm的器件,其热导与微桥结构器件的热导相近,都为10-7W/K量级,证明气凝胶二氧化硅做隔热层能够制备出性能优良的热释电红外探测器.随着薄膜厚度增加,热导急剧增大,这是引起器件响应率降低的原因.制备铁电薄膜过程中的多次650°高温退火可能降低了二氧化硅多孔率.

关 键 词:红外探测器  铁电薄膜厚度  二氧化硅气凝胶
文章编号:1001-9014(2007)05-0329-03
收稿时间:2006-10-21
修稿时间:2006-10-212007-05-18

FERROELECTRIC FILM THICKNESS DEPENDENCE OF PROPERTIES OF INFRARED DETECTOR WITH AN SiO2 AEROGEL THERMAL INSULATION LAYER
LIN Tie,SUN Jing-Lan,MENG Xiang-Jian,MA Jian-Hu,SHI Fu-Wen,ZHANG Xiao-Dong,WANG Lin,CHEN Jing,CHU Jun-Hao. FERROELECTRIC FILM THICKNESS DEPENDENCE OF PROPERTIES OF INFRARED DETECTOR WITH AN SiO2 AEROGEL THERMAL INSULATION LAYER[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2007, 26(5): 329-331335
Authors:LIN Tie  SUN Jing-Lan  MENG Xiang-Jian  MA Jian-Hu  SHI Fu-Wen  ZHANG Xiao-Dong  WANG Lin  CHEN Jing  CHU Jun-Hao
Abstract:
Keywords:infrared detector  ferroelectric film thickness  aerogel silica
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《红外与毫米波学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《红外与毫米波学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号