| 提高S校正电容器耐电流能力的探讨 |
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| 引用本文： | 王全.提高S校正电容器耐电流能力的探讨[J].电子元件与材料,1998,17(4):25-26. |
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| 作者姓名： | 王全 |
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| 作者单位： | 锡山市无线电二厂 |
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| 摘 要： | 制约Ｓ校正电容器耐电流能力的主要因素是ｔｇδ。ｔｇδ愈小，耐电流能力愈强。通过改进Ｓ校正电容器的设计与工艺，并在生产中控制ｔｇδ的上限值，将ｔｇδ较大的产品剔除，从而保证了电容器的耐电流能力。
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| 关 键 词： | 电容器 S校正电路 耐电流能力 |
Improving of the current capacity of S correction capacitors |
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| Abstract: | One of the factors that strongly influence the current capacity of capacitors in S correction circuits is DF The lower the DF, the higher the current capacity The current capacity is increased by improving the design and technology so as to reduce DF(no refs) |
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| Keywords: | capacitors S correction circuits current capacity |
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