| 超／特高压变压器套管端部试验用双环结构均压环设计 |
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| 引用本文： | 王晶,梁曦东,朱士全,朱明峰,潘文. 超／特高压变压器套管端部试验用双环结构均压环设计[J]. 高电压技术, 2011, 37(7): 1642-1648 |
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| 作者姓名： | 王晶 梁曦东 朱士全 朱明峰 潘文 |
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| 作者单位： | 1. 清华大学电机工程与应用电子技术系,北京,100084
2. 常州东芝变压器有限公司,常州,213012 |
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| 摘 要： | 为了避免对局放测量产生干扰，应控制均压环表面最大场强Emax，使其不起晕。以常州东芝变压器有限公司正在研发的±500kV换流变阀侧Y绕组套管端部试验用均压环的设计为例，探究了双环结构均压环的3个尺寸参数——环径D、管径d和两环中心距H对均压环表面最大场强的影响，并推荐了超／特高压变压器套管端部双环结构试验用均压环设计的...
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| 关 键 词： | 超/特高压 变压器 双环结构 均压环 局放测量 电晕 |
Design of the Dual-ring-structure Grading Ring on Top of the EHV/UHV Transformer Busing for Test Use |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | EHV/UHV transformer dual-ring-structure grading ring partial discharge（ PD） measurement corona |
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