| 原子力显微镜在信息存储介质检测中的应用 |
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| 引用本文： | 刘万里,孙大许,马强,闫勇刚. 原子力显微镜在信息存储介质检测中的应用[J]. 现代科学仪器, 2005, 0(5): 51-53 |
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| 作者姓名： | 刘万里 孙大许 马强 闫勇刚 |
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| 作者单位： | 河南理工大学精密工程研究所,焦作,454003 |
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| 摘 要： | 介绍了原子力显微镜（AFM）的原理及特点.用AFM对光盘上记录信息用的凹坑结构进行了三维检测.所得结论表明AFM在信息存储介质检测过程中具有独特的优势.
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| 关 键 词： | 原子力显微镜（AFM） 光盘 凹坑 检测 |
| 修稿时间： | 2004-10-28 |
The Application of AFM in Storage Medium Detection |
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| Liu Wanli,Sun Daxu,Ma Qiang,Yan Yonggang. The Application of AFM in Storage Medium Detection[J]. Modern Scientific Instruments, 2005, 0(5): 51-53 |
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| Authors: | Liu Wanli Sun Daxu Ma Qiang Yan Yonggang |
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| Abstract: | The paper introduces the principle and characteristic of Atomic Force Microscope(AFM).The pit structure on optical disk in detected in tree dimensions by AFM,The obtained results demonstrate the AFM have particular advantages in the course of detection on storage medium. |
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| Keywords: | Atomic Force Microscopy(AFM) Optical disk pit detection |
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