相差成像技术在PP/PE微结构研究中的应用 |
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作者姓名: | 申宇 杨德才 |
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作者单位: | 中国科学院长春应用化学研究所,中国科学院长春应用化学研究所,中国科学院长春应用化学研究所 |
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摘 要: | 对半结晶的聚合物PE和PP而言,当结晶不满足Bragg取向时,靠散射反差几乎不可能区分非晶区和结晶区。所以,对大多数多相聚合物体系,相差是一种很重要的成像技术。在PP/PE共混体系中,如何区分PP和PE是聚合物透射电子显微学中的难点。本文采用相差成像技术成功地揭示出PP和PP/PE超薄膜中的片晶结构,而无需借助重金属修饰或化学染色技术。理论计算表明,只要样品足够薄,利用位相反差区分HDPE和PP的晶区是切实可行的。实验像证实了上述理论预测。
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关 键 词: | 半结晶 聚合物 PP/PE 相差成像 |
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